Gelişmiş Arama

Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorDişlitaş, Serkan
dc.contributor.authorYanmaz, Hilmi
dc.contributor.authorÖmer, Günay
dc.contributor.authorAhıska, Raşit
dc.date.accessioned2021-11-01T18:14:55Z
dc.date.available2021-11-01T18:14:55Z
dc.date.issued2019
dc.identifier.issn2147-5881
dc.identifier.urihttps://doi.org10.5505/pajes.2018.33239
dc.identifier.urihttps://app.trdizin.gov.tr/makale/TXpRM05EZ3lNZz09
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11491/7579
dc.description.abstractBu çalışmada, termoelektrik (TE) yarıiletkenlerin P-N elektriksel iletkenlik tiplerinin belirlenmesi amacıyla, temelini Seebeck etkisine dayanan Hot-Probe metodunun oluşturduğu çok fonksiyonlu bir prob tasarlanmış ve gerçekleştirilmiştir. Tip belirleme işlemi, TE yarıiletkenin yüzeyleri arasında sıcaklık farkının (?T) oluşturulmasıyla üretilen Seebeck geriliminin (termoemk) pozitif veya negatif genlikli olma durumuna göre yapılmaktadır. Geliştirilen prob sayesinde, hem sıcaklık farkının oluşturulmasına yönelik gerekli ısıtma hem de termoemk gerilimi ve sıcaklık ölçümü yapılabilmektedir. Deneysel çalışma sonuçlarına göre; geliştirilen prob ile termoemk ölçümlerinin 0-30 mV aralığında ± 0.1 mV doğrulukta, sıcaklık ölçümlerinin ise 0-75 ?C aralığında ± 1 ?C doğrulukta yapılabildiği anlaşılmıştır. Sonuç olarak, geliştirilen çok fonksiyonlu prob ile TE yarıiletkenlerin elektriksel iletkenlik tipleri P veya N olarak pratik, hızlı ve güvenilir bir şekilde belirlenebilmektedir.en_US
dc.description.abstractIn this study, a multi-functional probe was designed and implemented to determine P-N electrical conductivity type of thermoelectric (TE) semiconductors according to Hot-Probe method based on the Seebeck effect. The type determination operation is performed according to the positive or negative amplitude of the Seebeck voltage (thermoemf) produced by forming the temperature difference (?T) between the surfaces of the TE semiconductors. Using the developed probe it is possible to provide both necessary heating and measurement of the thermoemf voltage and temperature. As a result of experimental studies; it has been shown that the thermoemf measurements can be made in ± 0.1 mV accuracy in 0-30 mV range and the temperature measurements can be ± 1?C in 0-75?C range. In conclusion, with the developed multifunctional probe, electrical conductivity type of TE semiconductors can be determined as P or N practically, quickly and reliably.en_US
dc.language.isoturen_US
dc.relation.ispartofPamukkale Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisien_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subject[No Keywords]en_US
dc.titleTermoelektrik yarıiletkenlerin P-N elektriksel iletkenlik tipinin belirlenmesine yönelik çok fonksiyonlu prob tasarımıen_US
dc.title.alternativeThe design of multi-functional probe for determining the P-N electrical conductivity type of thermoelectric semiconductorsen_US
dc.typearticleen_US
dc.department[Belirlenecek]en_US
dc.identifier.volume25en_US
dc.identifier.issue2en_US
dc.identifier.startpage151en_US
dc.identifier.endpage156en_US
dc.relation.publicationcategoryMakale - Uluslararası Hakemli Dergi - Kurum Öğretim Elemanıen_US
dc.department-tempHİTİT ÜNİVERSİTESİ/MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ/ELEKTRİK-ELEKTRONİK MÜHENDİSLİĞİ BÖLÜMÜ;Hitit Üniversitesi, Teknik Bilimler Meslek Yüksek Okulu, Elektrik ve Enerji Bölümü, Çorum, Türkiye;TES Ltd. Şti. Ankara, Türkiye;GAZİ ÜNİVERSİTESİ/FEN FAKÜLTESİ/FİZİK BÖLÜMÜen_US
dc.contributor.institutionauthor[Belirlenecek]
dc.identifier.doi10.5505/pajes.2018.33239
dc.description.wospublicationidWOS:000465428700003en_US


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster